CMM 三次元座標測量機 Global
橋式三座標測量機採用獨立移動橋式結構，安裝就位靈活，支持觸發與掃描測量，是中小尺寸工件檢測的最佳選擇方案。
CMM 三次元座標測量機 Croma
適合多種機型適應各種尺寸的工件測量，支援多種感測器， 滿足用戶不同應用場景、不同等級的測量需求，是實用的掃描型測量方案。
Leitz 超高精度三座標測量機
計量領域領先的高精度與高重複性表現，能勝任各類精密且形狀複雜零組件的評估與分析工作，真正發揮「測量中心」的核心價值與功能。
OMM 複合式影像測量儀 Optiv
小型、薄壁、柔性及複雜形狀零部件的全方位測量解決方案。
Portable 便攜式座標測量機
Leica 雷射追蹤儀
超大尺寸現場測量專家，提供高速動態量測能力，結合自動目標定位與即時斷光續接功能，為使用反射球進行量測的用戶帶來快速、精準且可靠的整體應用解決方案。
Absolute Arm 絕對關節臂測量機
便攜式關節臂的開創者，展現極致靈活的量測體驗。
Aicon 光學式量測系統
藍光高精度掃描量測系統具備卓越的機械穩定性與熱穩定性，能滿足品質檢測與逆向工程等領域的嚴苛要求。
工業用 CT
可對小型至中大型樣品進行掃描與 3D 重建，在無須破壞樣品的情況下，即可精準呈現其內部結構，實現高精度的非破壞式檢測。
Aiora AI 智能優化平台
Aiora Artemis 扮演優化器的角色，指導 EDA 工具中現有的模擬器執行最佳化過程；保留了現有 EDA 工具的所有優勢，並結合 Aiora Artemis 優化器的強大功能。
Aiora Artemis, Unlocking EDA Potentials
- RF 設計優化與自動化，加速產品開發效率。
- AI 優化算法，並支援多種電磁模擬平台
- 適用於通訊、射頻與高速電子設計領域
- 多目標最適化，可同時優化多個設計指標
- 操作介面與多款主流 EDA 模擬工具無縫整合
- 提供直觀的 DOE 分析與靈敏度分析報告
- 整合優勢：加速設計週期、降低成本、實時性預測
軟體工具與主流應用
可在不更換既有 RF 模擬流程的前提下，強化整體設計效能；並可將現有數據直接匯入 AIORA 進行模型建置與參數設置，同時支援逆向工程分析。適用於半導體及高科技製造領域的射頻元件優化，透過直觀的操作介面即可取得深度洞察，包括 S/Y/Z 參數與輻射圖案分析等。
與EDA 軟體無縫整合，支援多種業界廣泛使用的電磁設計軟體，包括 Ansys HFSS、CST Studio 和 Keysight ADS 及其他多款軟體參閱如下：
- check_circleAnsys HFSS 環境 API 支援
- check_circleKeysight ADS 環境 API 支援
- check_circleCST Studio 環境 API 支援
- check_circleSonnet Suites 環境 API 支援
- check_circleFILPAL EDS HF 環境 API 支援
- check_circleMician uWizard 環境 API 支援
- check_circleKeysight Nexus 環境 API 支援
- check_circleKeysight EMPro 環境 API 支援